Тестер шлейфов матриц с аккумулятором АСЦ

Тестер предназначен для диагностики целостности шлейфов интерфейса LVDS (30-40 pin) и eDP (30-40 pin) распространенных, стандартных матриц. Позволяет выявить ненадежные контакты в поврежденных проводниках, методом механического воздействия на шлейф. Либо выявить проблему в случаях отсутствия изображения по причине обрывов. Также, тестер позволяет определить наличие коротких замыканий в шлейфе. Подключается к шлейфу со стороны матрицы. Для диагностики обрывов, требуется подключение шлейфа к материнской плате ноутбука. Проверка на наличие коротких замыканий осуществляется без подключения к МП.